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ATX350精密超聲波測(cè)厚儀 ATX350精密超聲波測(cè)厚儀概述 ATX350精密超聲波測(cè)厚儀采用單晶延遲探頭，利用多次回波提高精度，使分辨率可達(dá)0.001mm，測(cè)量下限達(dá)0.15mm；示值誤差±0.005mm(3mm以下)/±0.05mm(20mm以下)。ATX350精密超聲波測(cè)厚儀具有...
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ATX360超薄高精度超聲波測(cè)厚儀 ATX360超薄高精度超聲波測(cè)厚儀概述 ATX360超薄型便攜式數(shù)字超聲波測(cè)厚儀，采用脈沖反射超聲波測(cè)量原理，適用于超聲波能以一恒定速度在其內(nèi)部傳播,并能從其背面得到反射的各種材料厚度的測(cè)量，測(cè)量分辨率高達(dá)0.001mm。此儀器可對(duì)各種板材和各種加工零件作...
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ATX290超聲波測(cè)厚儀 ATX290超聲波測(cè)厚儀概述 ATX290超聲波測(cè)厚儀是參照GB11344國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和ISO/TS18173國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行設(shè)計(jì)及制造的一款超聲波測(cè)厚儀。是穿越涂層型高精度超聲波測(cè)厚儀，適用于各種材料的穿越涂層高精測(cè)量需求，可應(yīng)用于鋼、鑄鐵、鋁、銅、鋅、石英、...
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AT310超聲波測(cè)厚儀 AT310超聲波測(cè)厚儀概述 AT310超聲波測(cè)厚儀，利用超聲波原理可以對(duì)任何超聲波良導(dǎo)體材料厚度進(jìn)行測(cè)量，如金屬類、塑料類、陶瓷類、玻璃類。顯示分辨率為0.01，可測(cè)量比普通超聲波測(cè)厚儀更為精密的工件。AT310超聲波測(cè)厚儀可以對(duì)各種板材和加工零件作精準(zhǔn)...
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TT130A超聲波測(cè)厚儀 TT130A超聲波測(cè)厚儀概述TT130A超聲波測(cè)厚儀|精密型利用超聲波原理可以對(duì)任何超聲波良導(dǎo)體材料厚度進(jìn)行測(cè)量，如金屬類、塑料類、陶瓷類、玻璃類。顯示分辨率為0.01，可測(cè)量比TT130更為精密的工件。對(duì)各種板材和加工零件作精準(zhǔn)測(cè)量對(duì)設(shè)備中各種管道和壓力容器...
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TT140A超聲波測(cè)厚儀 TT140A超聲波測(cè)厚儀概述 TT140A超聲波測(cè)厚儀利用超聲波原理可以對(duì)任何超聲波良導(dǎo)體材料厚度進(jìn)行測(cè)量，采用最新的高性能、低功耗微處理器技術(shù)，可以測(cè)量金屬及其它多種材料的厚度，并可以對(duì)材料的聲速進(jìn)行測(cè)量。對(duì)各種板材和加工零件作精準(zhǔn)測(cè)量對(duì)設(shè)備中各種管道和...
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時(shí)代TIME2100超聲波測(cè)厚儀 時(shí)代TIME2100超聲波測(cè)厚儀概述 時(shí)代TIME2100超聲波測(cè)厚儀|基本型，利用超聲波原理可以對(duì)任何超聲波良導(dǎo)體材料厚度進(jìn)行測(cè)量，如金屬類、塑料類、陶瓷類、玻璃類。對(duì)各種板材和加工零件作精準(zhǔn)測(cè)量對(duì)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行監(jiān)測(cè)監(jiān)測(cè)使用過(guò)程中受腐蝕后的...
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時(shí)代TIME2110超聲波測(cè)厚儀 時(shí)代TIME2110超聲波測(cè)厚儀概述 時(shí)代TIME2110超聲波測(cè)厚儀利用超聲波原理可以對(duì)任何超聲波良導(dǎo)體材料厚度進(jìn)行測(cè)量，如金屬類、塑料類、陶瓷類、玻璃類。TIME2110超聲波測(cè)厚儀是原TT100的替代型號(hào)，增加了背光功能，適合在光線不好的環(huán)境中進(jìn)行測(cè)...
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時(shí)代TIME2113超聲波測(cè)厚儀 時(shí)代TIME2113超聲波測(cè)厚儀概述 時(shí)代TIME®2113超聲波測(cè)厚儀測(cè)量厚度的原理與光波測(cè)量原理相似。探頭發(fā)射的超聲波脈沖到達(dá)被測(cè)物體并在物體中傳播，到達(dá)材料分界面時(shí)被反射回探頭，通過(guò)**測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。該機(jī)...
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時(shí)代TIME2136超聲波測(cè)厚儀 時(shí)代TIME2136超聲波測(cè)厚儀概述 時(shí)代TIME2136超聲波測(cè)厚儀具有標(biāo)準(zhǔn)和涂層兩種工作模式。涂層模式采用回波-回波法，當(dāng)材料表面有涂層時(shí)，無(wú)需把涂層打磨掉，能直接測(cè)出基材凈厚度，而且不需要對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，可直接測(cè)量，缺點(diǎn)是測(cè)量范圍受到一定限制，當(dāng)...
